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防震臺(tái)作為科研實(shí)驗(yàn)和精密設(shè)備中至關(guān)重要的重要設(shè)施,廣泛應(yīng)用于各種高精度測試與實(shí)驗(yàn)中。為了確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和設(shè)備的穩(wěn)定性,其微振控制成為了一個(gè)至關(guān)重要的因素。VC微振等級(jí)判定就是衡量防震臺(tái)抗震和微振能力的重要指標(biāo)之一。本文將圍繞它的VC微...
白光干涉儀是用于對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測量的儀器,它是以白光干涉技術(shù)為原理,光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡后分成兩束,一束經(jīng)被測表面反射回來,另外一束光經(jīng)參考鏡反射,兩束反射光最終匯聚并發(fā)生干涉,顯微鏡將被測表面的形貌特征轉(zhuǎn)化為干涉條紋信號(hào),通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌。白光干涉儀專用于非接觸式快速測量,精密零部件之重點(diǎn)部位的表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸,其測量精度可以達(dá)到納米級(jí)!目前,在3D測量領(lǐng)域,白光干涉儀是精度最高的測量儀器之一。白光干涉儀比...
微波等離子清洗是一種新興的清洗技術(shù),利用微波等離子體在低溫下的高效能量傳遞和化學(xué)反應(yīng)特性,可以用于清洗各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)、高精密度和高靈敏度的物體。本文將探討該清洗技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域、優(yōu)勢以及未來的發(fā)展前景。一、它的應(yīng)用領(lǐng)域:1.半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè):微波等離子清洗技術(shù)可以用于清洗半導(dǎo)體材料和器件,如晶圓、芯片和封裝材料。它能夠有效去除表面的污染物、氧化層和有機(jī)殘留物,提高材料的表面質(zhì)量和性能。2.光學(xué)工業(yè):它可以應(yīng)用于清洗光學(xué)元件,如鏡片、透鏡和光纖。它能夠去除光學(xué)元件表面的油脂、灰塵和污染物...
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,檢測產(chǎn)品的質(zhì)量和發(fā)現(xiàn)制造缺陷是至關(guān)重要的任務(wù)。傳統(tǒng)的缺陷檢測方法存在效率低、成本高和局限性大的問題。然而,隨著微流控技術(shù)的發(fā)展,越來越多的研究者開始將其應(yīng)用于缺陷檢測領(lǐng)域。本文將重點(diǎn)探討微流控缺陷檢測中的應(yīng)用及其所具有的優(yōu)勢。一、微流控技術(shù)在缺陷檢測中的應(yīng)用:1.微流控芯片設(shè)計(jì):微流控技術(shù)可以通過精確控制液體在微通道中的流動(dòng)來實(shí)現(xiàn)缺陷的檢測。通過合理設(shè)計(jì)微流控芯片的結(jié)構(gòu),可以將樣品送至特定位置,并在目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行相應(yīng)的檢測。2.缺陷類型檢測:微流控技術(shù)可以檢測...
白光干涉儀是一種非常常見的實(shí)驗(yàn)儀器,它可以用來測量物體表面的幾何形狀以及曲率半徑等參數(shù)。本文將介紹它的使用方法和注意事項(xiàng)。1.使用方法:(1)準(zhǔn)備工作:要使用白光干涉儀,需要將儀器放置在平穩(wěn)的地方,并確保周圍環(huán)境是相對(duì)穩(wěn)定的,避免空氣流動(dòng)和溫度變化等因素的影響。接下來,將待測樣品放置在專用支架上,并將支架放在儀器的電源裝置上。(2)調(diào)節(jié)光源:打開儀器的電源,并按照說明書中的步驟來調(diào)節(jié)光源的亮度、焦距和聚散程度,使得光線能夠均勻地照射在樣品表面。(3)調(diào)節(jié)測試參數(shù):可以根據(jù)需要...
晶圓缺陷檢測是半導(dǎo)體行業(yè)中至關(guān)重要的環(huán)節(jié),它對(duì)于保障產(chǎn)品質(zhì)量和提高生產(chǎn)效率具有重要作用。傳統(tǒng)的檢測方法往往需要大量的人力和時(shí)間,且存在一定的主觀性和局限性。然而,基于該檢測技術(shù)的出現(xiàn),為半導(dǎo)體行業(yè)帶來了新的機(jī)遇和挑戰(zhàn)。一、人工智能在晶圓缺陷檢測中的應(yīng)用:1.數(shù)據(jù)采集與預(yù)處理:該檢測需要大量的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練樣本。通過高分辨率的圖像采集設(shè)備獲取晶圓表面的圖像數(shù)據(jù),并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,去除噪聲和冗余信息,為后續(xù)的缺陷檢測提供準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ);2.特征提取與選擇:通過使用深度學(xué)習(xí)算法...