膜厚測量儀是一種用于測量薄膜厚度的儀器,其工作原理基于光學吸收和反射原理。它可以用于測量各種材料的膜厚,比如金屬涂層、塑料膜、涂料、陶瓷等。下面我們來詳細介紹一下膜厚測量儀的工作原理和特點。
它的工作原理:
膜厚測量的原理基于材料吸收和反射光線的原理,從而通過對材料所反射、透過的光線進行測量,來計算出材料的膜厚。因此,本儀器是一種利用光學技術進行測量的儀器。
具體說來,膜厚測量儀通過將一束光源射到待測材料上,并測量其反射的光線強度,從而計算出該材料的膜厚。在測量過程中,本儀器會通過自身的光譜儀和探測器來獲取反射的光強度,并根據建立的光譜庫得出膜層的厚度。
它的特點:
膜厚測量儀是一種非接觸式的測試手段,具有精度高、速度快、易操控、無破壞性等優(yōu)點。它的主要特點包括以下幾個方面:
1.非接觸式測試。測量膜厚時不會直接接觸待測材料,從而不會對其造成任何損害或變形。
2.高精度測量。精度可以達到納米級別。同時,它的測量結果也較為準確、可靠。
3.大范圍適用。適用于多種不同材料的膜厚測量,如金屬、陶瓷、涂料等,應用范圍廣泛。
4.實時顯示。可以實時顯示待測材料的膜厚。對于需要進行即時監(jiān)控的生產場合,它具有較高的實用性。
5.易操作。本儀器使用非常方便,即使沒有專業(yè)的光學知識也能快速上手、輕松操作。
總之,膜厚測量儀是一種非常實用的測試儀器,它具有高精度、易操作、無破壞性等優(yōu)點,廣泛應用于工業(yè)生產、科研和質量檢測等領域。